Hollanda’daki Amsterdam Üniversitesi ve ABD’deki Stanford Üniversitesi’nden araştırmacılar, geliştirdikleri mercek teknolojisinin sadece bu tür mercekler için değil aynı zamanda minyatür elektronik sistemler için de büyük potansiyel taşıdığını belirtiyor.
Nanobilimci Jorik van de Groep, geliştirdikleri merceğin görüntü bozulmasının önlenmesi gereken uygulamaların yanı sıra, ışık dalgalarının bilgi toplamak için kullanılabileceği uygulamalarda da kullanılabileceğini vurguluyor.
Geleneksel mercek teknolojilerinden farklı olarak, bu yeni mercek teknolojisi, ışığı bükmek için şeffaf bir malzeme yerine kırınım yoluyla odaklamak için oluklu kenarlar kullanıyor. Fresnel mercek veya bölge levha mercek olarak bilinen bu teknoloji, ince ve hafif merceklerin üretiminde yüzyıllardır kullanılıyor.
Araştırma ekibi, tungsten disülfid (WS2) adlı bir malzemenin ince tabakasına halkalar oyarak bu teknolojiyi geliştirdi. WS2’nin ışığı emmesiyle elektronlar belirli şekillerde hareket ederek eksiton adı verilen bir yapı oluşturuyor. Eksitonlar, belirli dalga boylarındaki ışığı daha iyi odaklamaya yardımcı oluyor.
Araştırmacılar, eksitonların davranışını daha iyi anlamak ve merceği daha da geliştirmek için ileri deneyler yapmayı planlıyor. Optik kaplamalar ve elektriksel yük varyasyonlarıyla diğer malzemelere uygulanabilecek bu tür merceklerin gelecekte daha da iyileştirilebileceği düşünülüyor.
Bu devrim niteliğindeki araştırma sonuçları, Nano Letters dergisinde yayımlandı.
Veri politikasındaki amaçlarla sınırlı ve mevzuata uygun şekilde çerez konumlandırmaktayız. Detaylar için veri politikamızı inceleyebilirsiniz.